可控硅测试仪二手仪器设备

可控硅测试仪二手仪器设备

IWATSU B-H ANALYZER SY-8218 磁性材料特性测试分析仪二手，
IWATSU B-H ANALYZER SY-8218磁性材料分析、磁性材料特性测试分析仪SY-8219



用于超宽带域的高频材料分析

SY-8218: 10Hz ～ 10MHz

SY-8219: 10Hz ～ 1MHz



用途

软磁性材料, 硅钢片, 电感等

传统汽车车载电子零部件

电器电子一般电器产品

电子零部件，组件

材料非金属材料

适合于测试硅钢片、铁氧体、非晶体材料等软磁性材料磁特性

二手CS3200日本IWATSU CS-3300半导体特性曲线图示仪，
半导体特性曲线图示仪！适用于二极管，晶体管 IGBT，场效应管 MOS-FET， 可控硅 SCR，达林顿阵列，光电耦合，压变电阻 VARISTOR，继电器 RELAY 等半导体器件反向 恢复特性，短路特性，雪崩测试，结电容/电阻测试，漏电参数，击穿参数，增益参数，导 通参数，混合参数，电流-电压 (I-V)、电容-电压 (C-V) 特性测试。

测量频率：10Hz 至 10MHz （SY-8218），10Hz 至 1MHz （SY-8219）
应用波形：正弦波、方波（10Hz~1MHz）
最大输入电流：±6A
最大输入电压：±200V
励磁方法：自动励磁

（最大磁场、最大磁通密度、最大励磁电流、最大感应电压指定）
乘以衰减交变磁场，以免留下残留磁化而减磁
规格
项目规格

磁场信号检测 无感应电阻器两端电压降法最大容许电流±6A
磁通密度信号检测 感应电压检测线圈两端电压检测法
最大容许电压±200V
数字化仪 分辨率 16bits （8192points / cycle）
样品连接方法 2绕线法或1绕线法
显示方式 8.4 英寸 TFT-LCD SVGA 800×600 像素
电源 100V 至 240V50/60Hz 功耗约 130VA（MAX）
尺寸 （mm）， 质量 420W×266H×480D（不含突起部），主体约12.5kg
外部存储器 USB（数据存储）
配件 POD 盖、交流耦合模块、功率放大器电缆 （BNC-BNC）、OSC 电缆 （BNC-SMA）、电源线、用户指南、用户手册 （CD）
半导体特性曲线图示仪 CS-3100 CS3300 TEK370A Iwatsu (岩崎),
产品特点
显示屏: 8.4″ 彩色TFT液晶显示屏
正确测试半导体如IGBTs, MOSFETs, 晶体管和二极管的最佳解决方案
采用电路图模式显示内部的配线状态 (CONFIGURATION), 更好地避免模块测试时的误操作(附图)
WAVE模式: 能确认实际印加电流和电压波形的监察模式 (附图)
可以像示波器一样通过观察模块上实际印加电流和电压的波形来确定脉宽和实际测试点 (Timing)
可通关确认实际波形, 适时调整脉宽和测试点
避免示波器的探棒影响, 可确认实时的异常信号
可非常容易地确认模块发热等引起的振荡等热异常情况
可实现SiC和GaN等器件的电容测试 (选件CS-603A/CS-605A)
可实现晶圆和芯片上的电容测试 (探针台和选件CS-603A/CS-605A)
标配LAN和USB接口
标准配置 (主机背面)
测试点数可调整.可根据需要的扫描速度及分辨率来设置. 根据不同用途可改变扫描方向. 同时具有客户指定功能, 可以指定仅对某一段进行扫描, 特别是在自动测试时可以实现高速且高分辨率的测试(附图)
限制扫描功能 (选件CS-800)
在一般的扫描测试中加入电流, 电压的限制功能. 限制在被测模块上印加的电流值, 电压值以起到保护作用. 也可在达到目标值时停止扫描(附图)
Vth-hFE自动检测功能(选件CS-800)
可在条件设㝊后进行自动测试, 避免了之前的繁杂操作
Constant 功能 (选件CS-800)
可印加规定电压或规定电流. 与CS-810半导体参数测试软件配合使用时, 可使用半导体曲线图示仪进行自动疲劳测试
温度特性测试 (选件CS-810)
通过CS-810半导体测试软件对曲线图示仪, 扫描系统, 加热板的自动控制, 实现温度特性评估试验的全自动测试 (附图)
CS-810是一个可安装于电脑中的选件应用软件. 通过以太网控制图示仪, 扫描系统, 加热板等设备, 经简单的设置后就可将一直以来只能手动测试的曲线图示仪实现全自动化测试, 大幅地提升工作效率
全自动化测试:测试→记录→判断. 提高品管和品检的工作效率 (附图)